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期刊簡介：
《Etri Journal》是一本由John Wiley & Sons Inc.出版商出版的計算機(jī)科學(xué)學(xué)術(shù)期刊，國際簡稱為ETRI J，中文名稱《埃特里雜志》。該刊自1979年創(chuàng)刊以來，一直以年度Bimonthly形式出版。并被國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄。
該刊專注于工程：電子與電氣及相關(guān)領(lǐng)域的前沿研究，致力于推動該領(lǐng)域新技術(shù)和新知識的傳播與應(yīng)用。它鼓勵研究人員詳細(xì)發(fā)表高質(zhì)量的實驗研究和理論成果，為學(xué)術(shù)交流提供高質(zhì)量的平臺。
該刊的平均審稿周期 約4.4個月 。自創(chuàng)刊以來， 《Etri Journal》在工程：電子與電氣領(lǐng)域一直具有很高的影響力，對稿件質(zhì)量要求嚴(yán)格。
《Etri Journal》雜志的影響因子為1.3，屬于開放OA期刊，Gold OA文章占比：68.58%。且被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標(biāo)，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
