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Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems SCIE

超大規模集成 (vlsi) 系統上的 Ieee 事務雜志

中科院分區:2區 JCR分區:Q2 預計審稿周期: 一般,3-6周

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版的工程技術國際刊物,國際簡稱為IEEE T VLSI SYST,中文名稱超大規模集成 (vlsi) 系統上的 Ieee 事務。該刊創刊于1993年,出版周期為Bimonthly。 《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》2023年影響因子為2.8,被收錄于國際知名權威數據庫SCIE。

ISSN:1063-8210
研究方向:工程技術-工程:電子與電氣
是否預警:否
E-ISSN:1557-9999
出版地區:UNITED STATES
Gold OA文章占比:7.13%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期:Bimonthly
影響因子:2.8
創刊時間:1993
年發文量:241
雜志簡介 中科院分區 JCR分區 CiteScore 發文統計 通訊方式 相關雜志 期刊導航

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems 雜志簡介

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》重點專注發布工程技術-工程:電子與電氣領域的新研究,旨在促進和傳播該領域相關的新技術和新知識。鼓勵該領域研究者詳細地發表他們的高質量實驗研究和理論結果。根據網友分享的投稿經驗,平均審稿速度為 一般,3-6周 。該雜志創刊至今,在工程技術-工程:電子與電氣領域,影響力非凡,對來稿文章質量要求很高,稿件投稿過審難度很大,刊登文章的學術水平和編輯質量在同類雜志中均名列前茅。如果你想在該雜志上發表論文,你可以向編輯部提交文章,但文章必須具有重要意義并代表該領域專業的發展。我們歡迎廣大同領域的研究者提交投稿。

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems 雜志中科院分區

中科院SCI分區數據
中科院SCI期刊分區(2023年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機:硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 2區 3區
中科院SCI期刊分區(2022年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機:硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區 3區
中科院SCI期刊分區(2021年12月舊的升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機:硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區 3區
中科院SCI期刊分區(2021年12月基礎版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機:硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區 4區
中科院SCI期刊分區(2021年12月升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機:硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區 3區
中科院SCI期刊分區(2020年12月舊的升級版)
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機:硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區 3區
中科院分區趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區:中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標,一般而言,發表在1區和2區的SCI論文,通常被認為是該學科領域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據,現已成為國際上通用的期刊評價指標,不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術水平,乃至論文質量的重要指標。

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems 雜志JCR分區

Web of Science 數據庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q2 23 / 59

61.9%

學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 151 / 352

57.2%

按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q2 26 / 59

56.78%

學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 149 / 354

58.05%

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems CiteScore 評價數據(2024年最新版)

  • CiteScore:6.4
  • SJR:0.937
  • SNIP:1.516

CiteScore 排名

學科類別 分區 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 195 / 797

75%

大類:Engineering 小類:Hardware and Architecture Q2 51 / 177

71%

大類:Engineering 小類:Software Q2 124 / 407

69%

CiteScore趨勢圖
年發文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發布的一個評價學術期刊質量的指標,該指標是指期刊發表的單篇文章平均被引用次數。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現期刊質量的重要指標,給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems 雜志發文統計

文章名稱引用次數

  • Novel Systolization of Subquadratic Space Complexity Multipliers Based on Toeplitz Matrix-Vector Product Approach58
  • Optimizing the Convolution Operation to Accelerate Deep Neural Networks on FPGA27
  • Computing in Memory With Spin-Transfer Torque Magnetic RAM22
  • A High-Throughput and Power-Efficient FPGA Implementation of YOLO CNN for Object Detection19
  • Self-Optimizing and Self-Programming Computing Systems: A Combined Compiler, Complex Networks, and Machine Learning Approach13
  • Low-Power and Fast Full Adder by Exploring New XOR and XNOR Gates13
  • Systematic Design of an Approximate Adder: The Optimized Lower Part Constant-OR Adder12
  • Robust Design-for-Security Architecture for Enabling Trust in IC Manufacturing and Test12
  • Experimental Investigation of 4-kb RRAM Arrays Programming Conditions Suitable for TCAM12
  • Radiation-Hardened 14T SRAM Bitcell With Speed and Power Optimized for Space Application12

國家/地區發文量

  • USA300
  • CHINA MAINLAND163
  • India72
  • Taiwan70
  • South Korea67
  • Canada46
  • GERMANY (FED REP GER)42
  • Singapore38
  • Iran36
  • Japan24

機構發文發文量

  • INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)50
  • UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM33
  • NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY & NATIONAL INSTITUTE OF EDUCATION (NIE) SINGAPORE27
  • PURDUE UNIVERSITY SYSTEM23
  • UNIVERSITY SYSTEM OF GEORGIA23
  • STATE UNIVERSITY SYSTEM OF FLORIDA19
  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES17
  • FUDAN UNIVERSITY17
  • HELMHOLTZ ASSOCIATION16
  • YONSEI UNIVERSITY16

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems 雜志社通訊方式

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志通訊方式為:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務,SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學術規范,詳情請咨詢客服。

免責聲明

若用戶需要出版服務,請聯系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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