《Ieee Transactions On Industrial Electronics》雜志的影響因子為7.5。
SCI的影響因子是衡量學術期刊學術影響力和價值的重要指標。影響因子反應了期刊中論文被引用的頻率，計算方式是某期刊前兩年內發表的論文在當年被引用總次數，以下是影響因子對科研人員和期刊本身的重要意義：
1.學術價值：被頻繁引用的論文通常意味著其研究具有較高的學術價值和創新性。
2.期刊評價：影響因子是評價學術期刊質量的重要標準之一，高影響因子的期刊通常學術地位較高。
3.科研晉升：在學術界，發表在影響因子高的期刊上的論文對作者職稱晉升有積極的影響。
4.科研資助：研究資助機構可能將期刊影響因子作為評估申請項目質量的依據之一。
5.期刊分區：SCI期刊根據影響因子進行分區，高影響因子的期刊通常被分在較高的分區，這關系到期刊的學術聲譽和學術地位。
需要注意的是，影響因子雖然有重要的意義，但并不是評價期刊的唯一標準。選擇期刊時還需要考慮期刊的質量、口碑、出版速度、覆蓋領域等多方面因素。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據，現已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術水平，乃至論文質量的重要指標。
《Ieee Transactions On Industrial Electronics》是一本由IEEE Industrial Electronics Society出版商出版的工程技術國際刊物，國際簡稱為IEEE T IND ELECTRON，中文名稱IEEE工業電子交易。該刊創刊于1982年，出版周期為Monthly，平均審稿速度為 約9.0個月 。
2023年影響因子為7.5，被收錄于國際知名權威數據庫SCIE。重點專注發布工程技術-自動化與控制系統領域的新研究，旨在促進和傳播該領域相關的新技術和新知識。
相關數據統計：
（1）中科院SCI期刊分區
大類學科：工程技術1區； 小類學科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS(自動化與控制系統)1區。
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 1區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 1區 1區 1區 | 是 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 1區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 1區 1區 1區 | 是 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 1區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 1區 1區 1區 | 是 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 1區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區 2區 1區 | 是 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 1區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 1區 1區 1區 | 是 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 1區 | AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS 自動化與控制系統 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 1區 1區 1區 | 是 | 否 |
（2）JCR分區Q1；
| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS | SCIE | Q1 | 6 / 84 |
93.5% |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 25 / 352 |
93% |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 2 / 76 |
98% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：AUTOMATION & CONTROL SYSTEMS | SCIE | Q1 | 5 / 84 |
94.64% |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 20 / 354 |
94.49% |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 2 / 76 |
98.03% |
（3）CiteScore評價數據：
CiteScore 排名
| 學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Control and Systems Engineering | Q1 | 13 / 321 |
96% |
| 大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q1 | 32 / 797 |
96% |
