《Microelectronics Reliability》雜志社的通訊方式如下：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB。
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期刊簡介：
《Microelectronics Reliability》是一本由Elsevier Ltd出版商出版的工程技術學術期刊，國際簡稱為MICROELECTRON RELIAB，中文名稱《微電子可靠性》。該刊自1964年創(chuàng)刊以來，一直以年度Monthly形式出版。并被國際知名權威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄。
該刊專注于工程：電子與電氣及相關領域的前沿研究，致力于推動該領域新技術和新知識的傳播與應用。它鼓勵研究人員詳細發(fā)表高質(zhì)量的實驗研究和理論成果，為學術交流提供高質(zhì)量的平臺。
該刊的平均審稿周期 較快,2-4周 約8.3周。自創(chuàng)刊以來， 《Microelectronics Reliability》在工程：電子與電氣領域一直具有很高的影響力，對稿件質(zhì)量要求嚴格。
《Microelectronics Reliability》雜志的影響因子為1.6，屬于未開放OA期刊，Gold OA文章占比：14.36%。且被收錄于國際知名權威數(shù)據(jù)庫SCIE。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。
