根據(jù)最新信息《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
學(xué)科分類：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(工程：電子與電氣)
| 按JIF指標學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 53 / 352 |
85.1% |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 9 / 76 |
88.8% |
| 按JCI指標學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 52 / 354 |
85.45% |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 7 / 76 |
91.45% |
這表明該刊在工程：電子與電氣領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認可度。此外，該刊創(chuàng)刊時間：1952年，影響因子：5.6，出版周期：Bimonthly、出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。
